[实用新型]一种用于IPM和IGBT测试的适配器有效
| 申请号： | 201520397125.2 | 申请日： | 2015-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN204760358U | 公开（公告）日： | 2015-11-11 |
| 发明（设计）人： | 吴秀力 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨佳度科技发展有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 150001 黑龙江省*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种用于IPM和IGBT测试的适配器。以解决现有技术中没有IPM及IGBT通用型适配器的技术难题。包括，探针式和插座式两种适配器。探针式适配器采用了全新的探针式导向孔设计，在探针式适配器的上板面分布有N组与待测模块的引脚位置相对应的探针式导向孔，其中N=1/2/3/4；插座式适配器采用了全新的排列式插座设计，在插座式适配器上分布有N个连接插座，其中N=1/2/3/4。两种适配器可兼容多种类型的IPM和IGBT，对其进行电性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 ipm igbt 测试 适配器 | ||
【主权项】：
一种用于IPM和IGBT测试的适配器，其特征在于，包括：印制线路板，在印制线路板上分布有探针式导向孔（11）或插座（31），牛角插座。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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