[实用新型]一种IC附着力测试机构有效
| 申请号： | 201520334540.3 | 申请日： | 2015-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN204575515U | 公开（公告）日： | 2015-08-19 |
| 发明（设计）人： | 陈德钧 | 申请（专利权）人： | 京隆科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01N19/04 | 分类号： | G01N19/04 |
| 代理公司： | 北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264 | 代理人： | 刘俊 |
| 地址： | 215000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种IC附着力测试机构，包括一底座，所述底座上开设有产品放置槽，所述产品放置槽的两侧分别设置有一用于固定产品的活动压块，所述产品放置槽的一端设置有用于抵推产品的可移动推块组件，所述可移动推块组件与一推拉计相适配，并在所述推拉计的推动下作直线运动。本实用新型结构简单合理，其以低成本的制作代替了高成本的专业测试机台设备，因而很好地降低了成本；此外，本实用新型可以根据产品的规格进行调整，因而机动性更大，适用范围更广，使用更方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 附着力 测试 机构 | ||
【主权项】：
一种IC附着力测试机构，其特征在于，包括一底座，所述底座上开设有产品放置槽，所述产品放置槽的两侧分别设置有一用于固定产品的活动压块，所述产品放置槽的一端设置有用于抵推产品的可移动推块组件，所述可移动推块组件与一推拉计相适配，并在所述推拉计的推动下作直线运动。
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