[发明专利]RTK定位精度的预报方法及系统有效

专利信息
申请号: 201510998676.9 申请日: 2015-12-24
公开(公告)号: CN105785409B 公开(公告)日: 2019-05-21
发明(设计)人: 谢锡贤;方春水;罗泽彬;郭灿桦;廖少翔 申请(专利权)人: 广州市中海达测绘仪器有限公司
主分类号: G01S19/41 分类号: G01S19/41
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 李巍
地址: 511400 广东省广州市番禺区东环*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种RTK定位精度的预报方法及系统,获取电离层TEC预报信息;获取根据RTK定位精度信息及电离层TEC信息建立的RTK精度模型;所述RTK定位精度信息包括:时间、基线及RTK定位精度;所述电离层TEC信息包括:所述时间、所述基线及电离层TEC;根据所述电离层TEC预报信息及所述RTK精度模型,确定RTK预报精度。通过上述RTK定位精度的预报方法及系统,用户可以根据电离层TEC预报信息对RTK定位精度进行预测,得到预测结果,即待报时间的RTK预报精度,从而可根据预测结果作进一步处理。
搜索关键词: rtk 定位 精度 预报 方法 系统
【主权项】:
1.一种RTK定位精度的预报方法,其特征在于,包括步骤:获取电离层TEC预报信息;获取根据RTK定位精度信息及电离层TEC信息建立的RTK精度模型;所述RTK定位精度信息包括:时间、基线及RTK定位精度;所述电离层TEC信息包括:所述时间、所述定位基线及电离层TEC;根据所述电离层TEC预报信息及所述RTK精度模型,确定待报时间的RTK预报精度;所述获取根据RTK定位精度信息及电离层TEC信息建立的RTK精度模型的步骤之前,还包括步骤:获取实时的定位信息;对所述实时的定位信息进行解算,确定实时的RTK定位精度信息;获取实时的电离层TEC信息;根据所述RTK定位精度信息及所述电离层TEC信息,分别建立不同电离层TEC对相同基线、及不同基线对相同电离层TEC的RTK精度模型。
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