[发明专利]利用热敏电阻测量温度的方法和装置在审
| 申请号： | 201510977921.8 | 申请日： | 2015-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN106908165A | 公开（公告）日： | 2017-06-30 |
| 发明（设计）人： | 侯广琦;张弢;杜涵 | 申请（专利权）人： | 康铂创想（北京）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/25 | 分类号： | G01K7/25 |
| 代理公司： | 北京市中伦律师事务所11410 | 代理人： | 姚李英 |
| 地址： | 100102 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种利用热敏电阻测量温度的方法，其包括以下步骤测量热敏测量热敏电阻两端的电压Vt，以获得热敏电阻阻值Rt；计算热敏电阻的功耗W；计算热敏电阻因发热导致的热敏电阻变化的温度Tb；以及基于常温温度T0、热敏电阻在常温下电阻R、热敏电阻在T1下的热敏电阻阻值Rt、热敏电阻有关参数B值以及热敏电阻因发热导致的热敏电阻变化的温度Tb来计算热敏电阻所处的环境的温度T1。本发明还提供了一种利用热敏电阻测量温度的装置，基于利用热敏电阻测量温度的方法来计算热敏电阻所处的环境的温度T1。由于考虑了热敏电阻因发热导致的热敏电阻变化的温度Tb，提高了热敏电阻所处的环境的温度T1的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 热敏电阻 测量 温度 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种利用热敏电阻测量温度的方法，用于利用热敏电阻测量温度的装置，其包括以下步骤：步骤1：测量热敏测量热敏电阻两端的电压Vt，以获得热敏电阻阻值Rt；步骤2：计算热敏电阻的功耗W；步骤3：计算热敏电阻因发热导致的热敏电阻变化的温度Tb；以及步骤4：基于常温温度T0、热敏电阻在常温下电阻R、热敏电阻在T1下的热敏电阻阻值Rt、热敏电阻有关参数B值以及热敏电阻因发热导致的热敏电阻变化的温度Tb来计算热敏电阻所处的环境的温度T1,热敏电阻所处的环境的温度T1由公式计算获得。
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