[发明专利]一种马赫‑曾德尔电光调制器频率响应的测量装置与方法有效
申请号: | 201510815110.8 | 申请日: | 2015-11-20 |
公开(公告)号: | CN105675260B | 公开(公告)日: | 2017-12-15 |
发明(设计)人: | 张尚剑;王恒;邹新海;刘俊伟;张雅丽;陆荣国;刘永 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G06T1/00 |
代理公司: | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司51230 | 代理人: | 徐金琼 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 一种马赫‑曾德尔电光调制器频率响应的测量装置与方法,属于光电子技术领域。目的在于克服现有测量中频率分辨率低、校准困难、高带宽需求的问题。本发明将一束光载波直接送入待测马赫‑曾德尔电光调制器中,利用加载在待测马赫‑曾德尔电光调制器的驱动电极上的第一信号源和第二信号源与偏置电极上的第三信号源进行调制,第一信号源与第二信号源输出具有频率差的正弦信号,第三信号源输出低频信号;光调制信号直接进入光电探测器进行拍频,然后在拍频信号中提取出三个特定的混频信号的幅度,获得待测马赫‑曾德尔电光调制器在单个调制频率的调制系数和半波电压;扫描所述射频信号的频率,即可得到待测马赫‑曾德尔电光调制器频率响应。 | ||
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【主权项】:
一种马赫‑曾德尔电光调制器频率响应的测量装置,包括激光器,第一信号源、第二信号源、合路器、光电探测器,频谱分析模块、以及控制及数据处理模块,其特征在于:激光器连接有待测马赫‑曾德尔电光调制器,第一信号源与第二信号源经过合路器加载在待测马赫‑曾德尔电光调制器的驱动电极上,待测马赫‑曾德尔电光调制器的偏置电极上还加载有第三信号源;光电探测器用于将待测马赫‑曾德尔电光调制器输出的光信号转换为电信号,然后利用频谱分析模块进行记录与分析,控制及数据处理模块对第一信号源、第二信号源的频率进行扫频控制,并同步提取与处理频谱分析模块中所需频率成分的幅度信息,求出不同调制频率下的半波电压,即获得待测马赫‑曾德尔电光调制器的频率响应。
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