[发明专利]自寻式正电子液对零件内腔及表面缺陷定位的装置及方法有效
申请号: | 201510645518.5 | 申请日: | 2015-10-08 |
公开(公告)号: | CN105241909B | 公开(公告)日: | 2018-07-20 |
发明(设计)人: | 肖辉;赵敏 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | G01N23/2251 | 分类号: | G01N23/2251 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 吴旭 |
地址: | 210016*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提出了一种自寻式正电子液对零件内腔及表面缺陷定位的装置及方法,基于正电子湮没原理及液体在抽真空过程中会先沸腾然后冻结的特性,同时正电子液中的放射性核素在衰变时并不受温度、存在状态等因素的影响,依然会产生正电子并对零件复杂内腔及表面空间几何结构的3D成像,实现零件内壁及表面缺陷的检测及定位。 | ||
搜索关键词: | 正电子 零件 表面 缺陷 定位 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种自寻式正电子液对零件内腔及表面缺陷定位的装置,其特征在于:包括刚性密闭容器、真空泵、正电子灌注系统以及γ光子探测及成像设备;所述刚性密闭容器内部设有可升降支撑架,待测零件置于所述可升降支撑架上;所述正电子灌注系统包括放射性核素活度计、管路以及正电子液储液器,所述正电子液储液器通过管路连接刚性密闭容器上的正电子液注入口,所述真空泵连接刚性密闭容器上的抽真空口,放射性核素活度计设置在所述管路上;所述γ光子探测及成像设备用于对刚性密闭容器的零件进行γ光子探测及成像处理。
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