[发明专利]基于子阵的平面阵列天线方向图综合方法在审

专利信息
申请号: 201510363856.X 申请日: 2015-06-26
公开(公告)号: CN105024166A 公开(公告)日: 2015-11-04
发明(设计)人: 丛友记 申请(专利权)人: 中国船舶重工集团公司第七二四研究所
主分类号: H01Q3/30 分类号: H01Q3/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 210003 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公布了基于子阵的平面阵列天线方向图综合方法,采用了改进的迭代傅里叶变换法(IFT)与多种智能优化算法相结合的混合优化算法对子阵平面阵列天线进行方向图综合设计,设计过程中采用了构造子阵优化变量的方法,使综合设计更简洁。该综合方法还考虑了天线单元间互耦因素的影响使优化结果更为精确。本发明针对子阵形式的平面阵列天线的综合设计问题具有计算效率高且通用性好的优点。
搜索关键词: 基于 平面 阵列 天线方向图 综合 方法
【主权项】:
基于子阵的平面阵列天线方向图综合方法,其特征在于:包含以下步骤:第一步:获得综合阵列中阵中单元方向图数据P0,获得综合阵列的工作频率f0,阵列规模:M行、N列,行间距dy、列间距dx,子阵规模M0行,N0列,目标方向图Fg;取阵列方向图计算点数K,且K=2n>max(M,N),n为正整数;第二步:利用改进的IFT算法产生m组,m为正整数,且m>1,子阵单元的幅相激励分布Esi,其中i=1,2……m随机产生子阵中各单元幅相激励分布Eci,其中i=1,2……m以及对应的阵列天线方向图Fi,其中i=1,2……m;第三步:将m组子阵幅相激励分布Esi,其中i=1,2……m,以及子阵中各单元幅相激励分布Eci,其中i=1,2……m,结合构造出子阵优化变量Ei,其中i=1,2……m并作为差分进化算法的初始值进行优化,获得其中最优的一组幅相激励Ep以及对应阵列天线方向图Fp;第四步:将该最优的幅相激励分布Ep利用模拟退火优化算法进一步迭代优化,获得最终的最优幅相激励分布Ep1与对应的阵列天线方向图Fp1
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