[发明专利]一种基于中子平均能量的次临界系统次临界度测量方法有效
申请号: | 201510274557.9 | 申请日: | 2015-05-26 |
公开(公告)号: | CN104898155B | 公开(公告)日: | 2018-03-27 |
发明(设计)人: | 杨英坤;常博;刘超;孙燕婷;张振宇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | G01T3/00 | 分类号: | G01T3/00 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司11251 | 代理人: | 杨学明,顾炜 |
地址: | 230031 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种基于中子平均能量的次临界系统次临界度测量方法,其包括在堆芯布置单个或多个探测器,测量探测器位置所有中子的平均能量;通过SuperMC等程序或替代燃料等实验方法,得到探测器位置处外源中子和裂变中子各自的平均能量;通过SuperMC等程序计算外源中子相对裂变中子的中子价值;利用得到的外源中子平均能量、裂变中子平均能量和外源中子价值,从探测得到的所有中子平均能量计算得到待测的次临界度;也可以在测量之前得到中子平均能量与次临界度的刻度曲线,对于待测状态,在测得所有中子平均能量之后,利用刻度曲线得到待测状态的次临界度;在上述过程中的测量或计算中子平均能量过程,只测量或计算高能部分中子,可以显著提高测量精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 中子 平均 能量 临界 系统 测量方法 | ||
【主权项】:
一种基于中子平均能量的次临界系统次临界度测量方法,所述该次临界系统为带外源中子的加速器驱动次临界系统,其特征在于:所述方法包括以下步骤:步骤(101)、通过程序计算或替代燃料的实验,得到堆芯中单个或多个位置P处的外源中子平均能量Es,ave;步骤(102)、通过程序计算或临界实验,得到上述步骤中位置P处的裂变中子平均能量Ef,ave;步骤(103)、通过程序计算,得到外源中子相对于裂变中子的中子价值步骤(104)、在次临界系统运行过程中,测量得到上述步骤中P处位置所有中子的平均能量,通过以下关系式得到系统源有效增殖因子ks:ks=Es,ave-EaveEs,ave-Ef,ave]]>其中,Eave为整个堆芯内所有中子的平均能量;步骤(105)、在得到源有效增殖因子ks之后,由以下关系式得到待测次临界度keff:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院合肥物质科学研究院,未经中国科学院合肥物质科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510274557.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种风箱及球团式环冷机
- 下一篇:一种陶瓷熔块烧成窑