[发明专利]一种基于中子平均能量的次临界系统次临界度测量方法有效

专利信息
申请号: 201510274557.9 申请日: 2015-05-26
公开(公告)号: CN104898155B 公开(公告)日: 2018-03-27
发明(设计)人: 杨英坤;常博;刘超;孙燕婷;张振宇 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01T3/00 分类号: G01T3/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司11251 代理人: 杨学明,顾炜
地址: 230031 *** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种基于中子平均能量的次临界系统次临界度测量方法,其包括在堆芯布置单个或多个探测器,测量探测器位置所有中子的平均能量;通过SuperMC等程序或替代燃料等实验方法,得到探测器位置处外源中子和裂变中子各自的平均能量;通过SuperMC等程序计算外源中子相对裂变中子的中子价值;利用得到的外源中子平均能量、裂变中子平均能量和外源中子价值,从探测得到的所有中子平均能量计算得到待测的次临界度;也可以在测量之前得到中子平均能量与次临界度的刻度曲线,对于待测状态,在测得所有中子平均能量之后,利用刻度曲线得到待测状态的次临界度;在上述过程中的测量或计算中子平均能量过程,只测量或计算高能部分中子,可以显著提高测量精度。
搜索关键词: 一种 基于 中子 平均 能量 临界 系统 测量方法
【主权项】:
一种基于中子平均能量的次临界系统次临界度测量方法,所述该次临界系统为带外源中子的加速器驱动次临界系统,其特征在于:所述方法包括以下步骤:步骤(101)、通过程序计算或替代燃料的实验,得到堆芯中单个或多个位置P处的外源中子平均能量Es,ave;步骤(102)、通过程序计算或临界实验,得到上述步骤中位置P处的裂变中子平均能量Ef,ave;步骤(103)、通过程序计算,得到外源中子相对于裂变中子的中子价值步骤(104)、在次临界系统运行过程中,测量得到上述步骤中P处位置所有中子的平均能量,通过以下关系式得到系统源有效增殖因子ks:ks=Es,ave-EaveEs,ave-Ef,ave]]>其中,Eave为整个堆芯内所有中子的平均能量;步骤(105)、在得到源有效增殖因子ks之后,由以下关系式得到待测次临界度keff:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院合肥物质科学研究院,未经中国科学院合肥物质科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510274557.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top