[发明专利]产生特征化扫描样本的方法与装置有效
| 申请号： | 201510095960.5 | 申请日： | 2015-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN104898042B | 公开（公告）日： | 2017-10-03 |
| 发明（设计）人： | 陈海力;郭士华;董志圣 | 申请（专利权）人： | 联发科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3183 | 分类号： | G01R31/3183 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人： | 王涛 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种产生用于扫描测试的一特征化扫描样本的方法与装置，该方法包含提供多个预定扫描样本，以在压力环境下对多个待测装置进行扫描测试，产生对应于每一个待测装置的多个测试响应；从每个待测装置的多个测试响应中，将每个待测装置的多个特定测试响应集合，决定每个待测装置的多个错误特征所对应的特征值；以及根据每个待测装置的特征值，产生至少一特征化扫描样本。通过本发明，能够减轻对于系统等级测试的依赖，降低测试成本，并更快地降低每百万缺陷数，从而保证获得更好品质的产品。 | ||
| 搜索关键词： | 产生 特征 扫描 样本 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种产生用于扫描测试的一特征化扫描样本的方法，其特征在于，所述的方法包含：提供多个预定扫描样本，以在压力环境下对多个待测装置进行扫描测试，产生对应于每一个待测装置的多个测试响应，其中，所述压力环境包括以低于待测装置本身额定电压的电压来运作待测装置，或者以高于待测装置本身最高操作频率的频率来运作待测装置；从每个待测装置的多个测试响应中，将每个待测装置的多个特定测试响应集合，决定每个待测装置的多个错误特征所对应的特征值；以及根据每个待测装置的特征值，产生至少一特征化扫描样本。
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