[发明专利]静态随机存储器有效
申请号: | 201510090162.3 | 申请日: | 2015-02-27 |
公开(公告)号: | CN105989873B | 公开(公告)日: | 2019-01-29 |
发明(设计)人: | 方伟;丁艳;陈双文;张静;潘劲东 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | G11C11/413 | 分类号: | G11C11/413 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴贵明;张永明 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种静态随机存储器。其中,该静态随机存储器包括:存储单元阵列;检测修复电路,与存储单元阵列连接,被设置为对存储单元阵列进行检测,并在检测出存储单元阵列出错时,修复存储单元阵列。本发明解决了由于现有技术中的修复电路位于静态随机存储器的外部所导致的数据处理效率较低的技术问题。 | ||
搜索关键词: | 静态 随机 存储器 | ||
【主权项】:
1.一种静态随机存储器,其特征在于,包括:存储单元阵列;检测修复电路,与所述存储单元阵列连接,被设置为对所述存储单元阵列进行检测,并在检测出所述存储单元阵列出错时,修复所述存储单元阵列;其中,所述检测修复电路包括:内建自检测电路,被设置为检测所述存储单元阵列中是否包括出错地址;内建冗余分析电路,连接所述内建自检测电路,被设置为对所述存储单元阵列进行修复;其中,所述内建冗余分析电路对所述存储单元阵列的修复方式包括:在检测出静态随机存储器中的所述存储单元阵列中包括出错地址时,将出错地址映射到冗余地址,以使在使用所述存储单元阵列时直接访问所述冗余地址。
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