[发明专利]发光二极管外延片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201510089875.8 申请日: 2015-02-28
公开(公告)号: CN104733576B 公开(公告)日: 2017-07-25
发明(设计)人: 苏晨;韩杰;胡加辉;魏世祯 申请(专利权)人: 华灿光电(苏州)有限公司
主分类号: H01L33/06 分类号: H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司11138 代理人: 徐立
地址: 215600 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种发光二极管外延片及其制备方法,属于发光二极管领域。所述发光二极管外延片包括衬底、依次形成在衬底上的缓冲层、3D层、高温填平层、第一半导体层、多量子阱层和第二半导体层,第一半导体层为N型层,第二半导体层为P型层,高温填平层包括N型掺杂层,N型掺杂层的掺杂浓度低于N型层的掺杂浓度;N型掺杂层为以下结构中的任一种n‑GaN层,或者u‑GaN层及设于u‑GaN层上的n‑GaN层,或者u‑GaN/n‑GaN周期性重复结构,或者采用Delta掺杂方式生长的氮化物/u‑GaN周期性重复结构,或者u‑GaN层及设于u‑GaN层上的重复层,重复层为u‑GaN/n‑GaN周期性重复结构或者采用Delta掺杂方式生长的氮化物/u‑GaN周期性重复结构,氮化物为N型掺杂层中掺杂元素构成的氮化物。
搜索关键词: 发光二极管 外延 及其 制备 方法
【主权项】:
一种发光二极管外延片,包括衬底、依次形成在所述衬底上的缓冲层、3D层、高温填平层、第一半导体层、多量子阱层和第二半导体层,所述第一半导体层为N型层,所述第二半导体层为P型层,其特征在于,所述高温填平层包括N型掺杂层,所述N型掺杂层的掺杂浓度低于所述N型层的掺杂浓度;所述N型掺杂层为以下结构中的任一种:n‑GaN层,或者u‑GaN层及设于所述u‑GaN层上的n‑GaN层,或者u‑GaN/n‑GaN周期性重复结构,或者采用Delta掺杂方式生长的氮化物/u‑GaN周期性重复结构,或者u‑GaN层及设于所述u‑GaN层上的重复层,所述重复层为u‑GaN/n‑GaN周期性重复结构或者采用Delta掺杂方式生长的氮化物/u‑GaN周期性重复结构,所述氮化物为所述N型掺杂层中掺杂元素构成的氮化物。
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