[发明专利]存储器测试装置与存储器测试方法有效
| 申请号： | 201510059674.3 | 申请日： | 2015-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN104835536B | 公开（公告）日： | 2018-03-23 |
| 发明（设计）人： | 苏锦荣;黄睿夫 | 申请（专利权）人： | 联发科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京万慧达知识产权代理有限公司11111 | 代理人： | 张金芝,代峰 |
| 地址： | 中国台湾新竹科*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种存储器测试装置与存储器测试方法。存储器测试装置用以测试存储器，包括测试电路，耦接于所述存储器以测试所述存储器的性能；以及寄存器，耦接于所述测试电路，并且测试时钟信号输入至所述寄存器，其中所述测试时钟信号不同于所述存储器及/或所述测试电路的原始时钟信号，并且所述测试时钟信号用以调整所述存储器测试装置闩锁来自所述存储器的资料的时间，以降低所述存储器测试装置的时序余量。本发明所公开的存储器测试装置与存储器测试方法，具有更佳的正确性与可靠度。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种存储器测试装置，其特征在于，用以在所述存储器操作于测试模式下时通过包括测试电路和寄存器的第一时序路径测试存储器，其中：所述测试电路，耦接于所述存储器以测试所述存储器的性能；以及所述寄存器，耦接于所述测试电路，并且测试时钟信号输入至所述寄存器，其中所述测试时钟信号不同于所述存储器及/或所述测试电路的原始时钟信号，并且所述测试时钟信号用以调整所述存储器测试装置闩锁来自所述存储器的资料的时间，以降低所述存储器测试装置的时序余量，以使所述测试装置的时序余量等于或小于所述存储器操作于功能模式下的时序余量；其中，在所述功能模式下，通过不同于所述第一时序路径的第二时序路径存取所述存储器。
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