[发明专利]一种一体化多IR码自动解析功能测试装置

摘要

本发明提供一种一体化多IR码自动解析功能测试装置，包括按键IR码发射模块、按键IR码接收模块、红外光信号采集模块、ARM处理模块、UART通信模块，按键IR码接收模块、红外光信号采集模块分别与ARM处理模块电连接，ARM处理模块与UART通信模块电连接;按键IR码发射模块发出的数据以红外光为载波，将要通信的数据进行调制后发送，按键IR码接收模块将红外光转换成电压脉冲信号，ARM处理模块将电压脉冲信号进行自动识别解码;同时红外光信号采集模块将光信号转为电流信号，并进行信号放大，ARM处理模块处理信号强度，并与标准值比较后将结果发送给UART通信模块，UART通信模块将结果传递给PC或其他终端显示。本发明能测试多种遥控器IR码，速度更快、效率更高。

主权项

1.一种一体化多IR码自动解析功能测试装置，其特征在于：包括按键IR码发射模块(1)、按键IR码接收模块(2)、红外光信号采集模块(3)、ARM处理模块(4)、UART通信模块(5)，所述按键IR码接收模块(2)、红外光信号采集模块(3)分别与所述ARM处理模块(4)电连接，所述ARM处理模块(4)与所述UART通信模块(5)电连接;所述按键IR码发射模块(1)发出的数据以红外光为载波，将要通信的数据进行调制后发送，所述按键IR码接收模块(2)将红外光转换成电压脉冲信号，所述ARM处理模块(4)将所述电压脉冲信号进行自动识别解码;同时所述红外光信号采集模块(3)将光信号转为电流信号，并进行信号放大，所述ARM处理模块(4)处理信号强度，并与标准值比较后将结果发送给所述UART通信模块(5)，所述UART通信模块(5)将结果传递给PC或其他终端显示；所述红外光信号采集模块(3)包括运算放大器U7、电阻R12至17、电容C16、电容C20、电容C22至24、电容C26、可调电位器VR1、可调电位器VR2、连接器J6，所述运算放大器U7的引脚1连接至可调电位器VR1的一端，所述可调电位器VR1的另一端同时连接至可调电位器VR2的一端、电源+12V端，所述可调电位器VR2的另一端连接至运算放大器U7的引脚8，所述运算放大器U7的引脚6同时连接至电阻R17的一端、电容C23的一端、电容C24的一端，所述电容C23的另一端、电容C24的另一端同时接地，所述电阻R17的另一端同时连接至电阻R16的一端、运算放大器U7的引脚2，所述电阻R16的另一端同时连接至电容C20的一端、电容C22的一端、电阻R15的一端、连接器J6的引脚2，所述电容C20的另一端同时连接至电容C22的另一端、电阻R13的一端、电阻R14的一端、连接器J6的引脚1，所述电阻R14的另一端连接至电阻R15的另一端，所述电阻R13的另一端同时连接至电阻R12的一端、运算放大器U7的引脚3，所述电阻R12的另一端接地，所述运算放大器U7的引脚4同时连接至电容C26的一端、电源-12V端，所述电容C26的另一端接地，所述运算放大器U7的引脚7同时连接至电容C16的一端、电源+12V端，所述电容C16的另一端接地。