[发明专利]三相四线制缺零线功能检测电路及检测方法有效
申请号: | 201510055435.0 | 申请日: | 2015-02-03 |
公开(公告)号: | CN104698291B | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | 周良璋;吕锋;卜俭青;张向程;朱程鹏 | 申请(专利权)人: | 杭州海兴电力科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R29/16 | 分类号: | G01R29/16;G01R31/02 |
代理公司: | 杭州凯知专利代理事务所(普通合伙) 33267 | 代理人: | 邵志 |
地址: | 310011 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及三相四线制缺零线功能检测电路及检测方法。目的是提供一种检测电路及检测方法,在三相四线制智能电表端即可检测零线是否接入。方案:检测电路包括光耦IC1,其发射侧的UN端经开关电路与系统地COM相连,另一端分为三路,一路经串联的电阻R4、R3、R2、R1和二极管D12后与三相电压中的A相相连,一路经串联的电阻R8、R7、R6、R5和二极管D13后与三相电压中的B相相连,一路经串联的电阻R12、R11、R10、R9和二极管D14后与三相电压中的C相相连;光耦IC1接收侧的一个引脚接地,另一个引脚Testin输出用于判断是否缺零线的波形。本发明用于检测三相四线制交流电度表端的零线状态。 | ||
搜索关键词: | 三相 四线制缺零线 功能 检测 电路 方法 | ||
【主权项】:
1.一种三相四线制缺零线功能检测电路进行缺零检测的方法,其特征在于:检测电路包括光耦IC1,其发射侧的电压零线的进线端UN经开关电路与系统地COM相连,另一端分为三路,一路经串联的电阻R4、R3、R2、R1和二极管D12 后与三相电压中的A相相连,一路经串联的电阻R8、R7、R6、R5和二极管D13后与三相电压中的B相相连,一路经串联的电阻R12、R11、R10、R9和二极管D14后与三相电压中的C相相连;光耦IC1接收侧的一个引脚接地,另一个引脚Testin输出用于判断是否缺零线的波形;所述开关电路包括三极管Q1,以及与该三极管Q1的输出端相连的继电器V1,其中继电器V1的两个输出端分别连接电压零线的进线端UN和系统地COM;三极管Q1基极经电阻R14接输入控制端Test_control,发射极接3.3V 电压并经电阻R15接输入控制端Test_control,集电极经电阻R13与继电器V1相连;在表计接入两相或三相电的情况下,控制输入控制端Test_control为低电平,以1KHz的中断频率检测引脚Testin的波形,分别累加波形中高电平的次数和低电平的次数;当高电平次数和低电平次数的和为24 时,控制输入控制端Test_control为高电平;判断低电平次数是否大于高电平次数,若是,则认为当前为不缺零线状态,若否,则认为当前为缺零线状态。
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