[发明专利]一种太阳能硅片检测方法

摘要

本发明公开一种太阳能硅片检测方法，包括以下步骤首先图像采集，对采集的图像进行中值滤波和去除噪声处理，再利用Hessian矩阵法获得潜在亚像素级图像，分解图像(RGB)即把彩色图像转换成黑白图像，然后都图像进行设定threshold值，对图像进行提取特征值，再计算两个区域的差异，变换图像形状，扩张有圆形元素区，选择带有某些特征的区域，显示检测结果，最后保存缺陷数据。本发明的图像采集基于双目扫描测量的方法，该方法不仅实现了太阳能硅片的自动检测，而且提高了检测效率和增强了检测结果的可靠性。在图像处理的过程，利用Hessian矩阵法获得潜在亚像素级图像，进一步把图像的噪声去除，从而增强图像质量，为提高检测可靠性打下良好的基础。

主权项

一种太阳能硅片检测方法，包括：1）图像采集，其特征在于，采用激光发射器投射到太阳能硅片上，得到相应的人工纹理，并利用两个相机采集图像信息；还包括以下步骤：2）噪声去除，利用中值滤波法对采集到图像进行噪声的去除；3）亚像素级图像获取，采用Hessian矩阵法获得潜在亚像素级图像；4）提取图像特征，把彩色图像转换成黑白图像，并对分解的图像进行阈值设定，通过设定的阀值提取相应区域的图像特征；5）计算两个区域的差异，根据不同区域提取到的图像特征，计算出两个区域的差异性；6）变换图像形状，变换图像形状同时扩张有圆形特征区域；7）硅片检查，选择带有一定特征的区域，通过该特征对硅片进行检查；8）数据存储，显示相应的检查结果同时把相关缺陷信息保存在相应的数据库里面。