[发明专利]一种宽谱光源光谱分布函数和自相关函数的测量与构造方法

摘要

本发明属于白光干涉光学测量技术领域,具体涉及一种宽谱光源光谱分布函数和自相关函数的测量与构造方法。本发明包括：采用高精度光谱仪测得待测的宽谱光源的光谱分布曲线，并将光谱分布曲线的测试数据采集出来；将宽谱光源的光谱分布函数用N个高斯基函数的线性叠加表示，确定高斯基函数的中心波长，光谱强度系数和光谱分布参数；对宽谱光源的光谱分布函数进行傅里叶变换得到宽谱光源的自相关特性。通过本方法可以有效测得所有宽谱光源的分布函数以及相关曲线值，更简便，实用性更强。

主权项

一种宽谱光源光谱分布函数和自相关函数的测量与构造方法：(1)采用高精度光谱仪测得待测的宽谱光源的光谱分布曲线，并将光谱分布曲线的测试数据采集出来；(2)将宽谱光源的光谱分布函数用N个高斯基函数的线性叠加表示：$S\left(\mathrm{\λ}\right)=\underset{j=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\frac{G_j}{\sqrt{2\mathrm{\π}{\mathrm{\σ}}_j^2}}\exp [-\frac{{(k-k_j)}^2}{2{\mathrm{\σ}}_j^2}]$式中确定高斯基函数的中心波长λ，光谱强度系数G_j和光谱分布参数σ_j，需要确定的参数总共是3N个，k_j＝2π/λ_j；(3)对宽谱光源的光谱分布函数进行傅里叶变换得到宽谱光源的自相关特性：$\mathrm{\Γ}\left(x\right)=\underset{l=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\{\frac{G_j}{\sqrt{2\mathrm{\π}}}\·e^{i{k}_{j}x}\·\exp [-\frac{{{\mathrm{\σ}}_j}^2}{2}{x}^2\left]\right\},$其中x为光程差。