[实用新型]磁粉探伤用多组中心导体结构有效
申请号: | 201420831566.4 | 申请日: | 2014-12-25 |
公开(公告)号: | CN204269601U | 公开(公告)日: | 2015-04-15 |
发明(设计)人: | 刘进祥;夏咸凯;张长友 | 申请(专利权)人: | 北京磁通设备制造有限公司 |
主分类号: | G01N27/84 | 分类号: | G01N27/84 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 101149 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型涉及机械领域,尤其涉及磁粉探伤用多组中心导体结构。包含中部带孔的工件,所述中部带孔的部件的边沿穿过一组以上的中心导体,所述一组以上的中心导体为磁场提供部件,其结构至少包含连接的两个平行杆,两个平行杆一个穿过工件中心的孔,一个平行于该孔布置置于边沿外部。有益效果:在空心工件中部穿过多组导电体(两组以上,含两组)。本实用新型探伤时能够使尺寸较大的空心工件内产生分布较为均匀的周向磁场,实现较大空心工件周向一次性磁粉探伤,大大提高磁粉探伤的效率及可靠性。 | ||
搜索关键词: | 探伤 用多组 中心 导体 结构 | ||
【主权项】:
磁粉探伤用多组中心导体结构,其特征在于,包含中部带孔的工件(1),所述中部带孔的工件的边沿穿过一组以上的中心导体(2),所述一组以上的中心导体为磁场提供部件,其结构至少包含连接的两个平行杆,两个平行杆一个穿过工件中心的孔,一个平行于该孔布置置于边沿外部。
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