[实用新型]台面结构的10G PIN光电探测器芯片有效

专利信息
申请号: 201420451719.2 申请日: 2014-08-12
公开(公告)号: CN204130565U 公开(公告)日: 2015-01-28
发明(设计)人: 王建 申请(专利权)人: 深圳市芯思杰联邦国际科技发展有限公司
主分类号: H01L31/105 分类号: H01L31/105;H01L31/0216;H01L31/0352
代理公司: 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙) 44309 代理人: 廉红果
地址: 518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路鲤鱼门街一号前*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开一种台面结构的10G PIN光电探测器芯片,包括:衬底、形成于衬底上的缓冲层、形成于缓冲层上的吸收层、形成于吸收层上的顶层、形成于顶层上的有源区、形成于顶层上的接触层、形成于顶层上的第一复合钝化层、形成于衬底、缓冲层、吸收层、顶层和第一复合钝化层上的第二复合钝化层、形成于第二复合钝化层和有源区上的增透膜、形成于缓冲层上的N型电极环、形成于增透膜和N型电极环上的N电极及形成于增透膜和接触层上的P电极,第一至第二复合钝化层由氮化硅和二氧化硅沉积而成。该芯片采用氮化硅与二氧化硅沉积形成第一与第二钝化层,以对芯片进行保护,且可以简化产品加工工艺,安全性高。
搜索关键词: 台面 结构 10 pin 光电 探测器 芯片
【主权项】:
一种台面结构的10G PIN光电探测器芯片,其特征在于,包括:衬底、形成于所述衬底上的缓冲层、形成于所述缓冲层上的吸收层、形成于所述吸收层上的顶层、形成于所述顶层上的有源区、形成于所述顶层上的接触层、形成于所述顶层上的第一复合钝化层、形成于所述衬底、缓冲层、吸收层、顶层和第一复合钝化层上的第二复合钝化层、形成于所述第二复合钝化层和有源区上的增透膜、形成于所述缓冲层上的N型电极环、形成于所述增透膜和N型电极环上的N电极、以及形成于所述增透膜和接触层上的P电极。
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