[实用新型]一种光学系统波像差测量装置有效

专利信息
申请号: 201420429293.0 申请日: 2014-07-31
公开(公告)号: CN204008073U 公开(公告)日: 2014-12-10
发明(设计)人: 卢增雄;齐月静;苏佳妮;杨光华;周翊;王宇 申请(专利权)人: 中国科学院光电研究院
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种光学系统波像差测量装置,装置包括线偏振平面波发生源、1/2波片、偏振分光棱镜、1/4波片、反射装置以及夏克-哈特曼波前传感器,线偏振平面波发生源用于产生线偏振平面波;1/2波片用于将线偏振平面波转换后成为s偏振平面波;偏振分光棱镜用于将经1/2波片透射的s偏振平面波反射到1/4波片,并透射来自1/4波片透射的p偏振光;1/4波片用于将来自偏振分光棱镜的s偏振平面波转换成为圆偏振平面波,以及将由来自反射装置的圆偏振平面波转换成为p偏振平面波;反射装置用于使来自1/4波片的圆偏振平面沿原路返回;夏克-哈特曼波前传感器则用于测量入射到其上的p偏振光的波像差。本实用新型可以实现各种复杂光学系统波像差的高精度检测。
搜索关键词: 一种 光学系统 波像差 测量 装置
【主权项】:
一种光学系统波像差测量装置,用于测量有限共轭光学系统的波像差,其特征在于,该测量装置包括线偏振平面波发生源、1/2波片、偏振分光棱镜、1/4波片、第二准直镜、球面反射镜以及夏克‑哈特曼波前传感器,其中,所述线偏振平面波发生源用于产生线偏振平面波;所述1/2波片用于将所述线偏振平面波转换后成为s偏振平面波;所述偏振分光棱镜用于将经所述1/2波片透射的s偏振平面波反射到1/4波片,并透射来自所述1/4波片透射的p偏振光;所述1/4波片用于将来自所述偏振分光棱镜的s偏振平面波转换成为圆偏振平面波,以及将由来自所述反射装置的圆偏振平面波转换成为p偏振平面波;所述第二准直镜位于所述有限共轭光学系统与所述1/4波片之间,该第二准直镜的焦点和所述有限共轭光学系统的前焦点重合;所述球面反射镜的曲率中心与所述有限共轭光学系统的后焦点重合,所述球面反射镜和所述有限共轭光学系统组成反射装置,所述反射装置用于使来自1/4波片的圆偏振平面沿原路返回;所述夏克‑哈特曼波前传感器则用于测量入射到其上的p偏振光的波像差。
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