[实用新型]三维封装结构有效
申请号: | 201420155463.0 | 申请日: | 2014-04-01 |
公开(公告)号: | CN204144247U | 公开(公告)日: | 2015-02-04 |
发明(设计)人: | 王文斌;王之奇;喻琼;王蔚 | 申请(专利权)人: | 苏州晶方半导体科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/538 | 分类号: | H01L23/538 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华;应战 |
地址: | 215021 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种三维封装结构,包括:第一衬底,第一衬底上具有第一焊盘;位于第一焊盘上的第一键合层;位于第一键合层周围形成保护墙,所述保护墙的顶部表面高于第一键合层的表面;倒装在第一衬底上的第二衬底,所述第二衬底上具有第二焊盘,所述第二焊盘的表面上具有第二键合层,第二衬底上的第二键合层与第一衬底上的第一键合层键合连接,所述保护墙围绕所述第一键合层和第二键合层。本实用新型的三维封装结构具有保护墙,在进行第一键合层和第二键合层的键合时,防止第一键合层或第二键合层材料向键合面两侧的溢出。 | ||
搜索关键词: | 三维 封装 结构 | ||
【主权项】:
一种三维封装结构,其特征在于,包括: 第一衬底,第一衬底上具有第一焊盘; 位于第一焊盘上的第一键合层; 位于第一键合层周围形成保护墙,所述保护墙的顶部表面高于第一键合层的表面; 倒装在第一衬底上的第二衬底,所述第二衬底上具有第二焊盘,所述第二焊盘的表面上具有第二键合层,第二衬底上的第二键合层与第一衬底上的第一键合层键合连接,所述保护墙围绕所述第一键合层和第二键合层。
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