[发明专利]一种用于检测光学元件弱吸收的装置及方法

摘要

本发明涉及一种用于检测光学元件弱吸收的装置及方法，所述装置包括探测激光器、光电接收器，设置在探测激光器与光电接收器之间的第一分光元件、反射镜、第二分光元件。第一分光元件、反射镜、第二分光元件、光学元件围成平行四边形，且依次处于平行四边形的顶点。其还包括产生激励光的激励结构，光学元件表面与激励结构相对设置。相对于现有技术采用的表面热透镜技术，由于光学元件在热作用下变形很小，使得光变化信号很微弱，导致有用的光信号淹没在噪声中，而本发明由于第二激光束与第三激光束间产生的干涉图样较为明显，通过干涉图样来分析光学元件的弱吸收，其检测灵敏度更好，且本发明所述的光学元件的弱吸收装置结构也颇为简单，性价比高。

主权项

一种用于检测光学元件弱吸收的装置，其特征在于，包括探测激光器、光电接收器，设置在所述探测激光器与所述光电接收器之间的第一分光元件、反射镜、第二分光元件，所述第一分光元件、第二分光元件、反射镜与光学元件处于同一平面；所述第一分光元件、反射镜、第二分光元件、光学元件围成平行四边形，且依次处于平行四边形的四个顶点；还包括用于产生激励光的激励结构，所述光学元件的表面与所述激励结构相对设置。