[发明专利]用于制备MOS管的组合掩膜版在审
申请号: | 201410844614.8 | 申请日: | 2014-12-30 |
公开(公告)号: | CN105810564A | 公开(公告)日: | 2016-07-27 |
发明(设计)人: | 樊茂;沈海峰 | 申请(专利权)人: | 展讯通信(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 201203 上海市浦东新区张*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及电子技术领域,具体涉及一种组合掩膜版。用于制备MOS管的组合掩膜版,包括,第一掩膜版,用于在一复合结构中形成一第一薄膜层;第二掩膜版,用于在复合结构中形成一第二薄膜层;第三掩膜版,用于在复合结构中形成一第三薄膜层;第一掩膜版与第三掩膜版叠加后的重合区域形成第四光掩模图形,第四光掩膜图形用于在复合结构中形成连接第一薄膜层与第三薄膜层的连接孔;第二掩膜版与第三掩膜版叠加后的重合区域形成第五光掩模图形,第五光掩膜图形用于在复合结构中形成连接第二薄膜层与三薄膜层的连接孔。本发明可以减少针对连接孔单独设置独立的掩膜版,降低集成电路的制造成本。 | ||
搜索关键词: | 用于 制备 mos 组合 掩膜版 | ||
【主权项】:
用于制备MOS管的组合掩膜版,其特征在于,包括,第一掩膜版,所述第一掩膜版上形成有第一光掩膜图形,所述第一光掩模图形用于在一复合结构中形成一第一薄膜层;第二掩膜版,所述第二掩膜版上形成有第二光掩膜图形,所述第二光掩模图形用于在所述复合结构中形成一第二薄膜层;第三掩膜版,所述第三掩膜版上形成有第三光掩膜图形,所述第三光掩模图形用于在所述复合结构中形成一第三薄膜层;所述第一掩膜版与所述第三掩膜版叠加后的重合区域形成第四光掩模图形,所述第四光掩膜图形用于在所述复合结构中形成连接所述第一薄膜层与所述第三薄膜层的连接孔;所述第二掩膜版与所述第三掩膜版叠加后的重合区域形成第五光掩模图形,所述第五光掩膜图形用于在所述复合结构中形成连接所述第二薄膜层与所述三薄膜层的连接孔。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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