[发明专利]一种地基微波辐射计实时定标装置及方法有效

专利信息
申请号: 201410822486.7 申请日: 2014-12-24
公开(公告)号: CN104483646A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 王新彪;张升伟;张祥坤;王振占 申请(专利权)人: 中国科学院空间科学与应用研究中心
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01W1/18
代理公司: 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 代理人: 王宇杨;杨青
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种地基微波辐射计实时定标装置,所述装置包括:地基微波辐射计(1),第一极化线栅(2),左热源(3),第二极化线栅(4),右热源(5)和下热源(6);以地基微波辐射计(1)为中心,所述第一极化线栅(2)位于地基微波辐射计(1)的左边,所述左热源(3)位于所述第一极化线栅(2)的左边;所述第二极化线栅(4)位于地基微波辐射计(1)的右边,所述右热源(5)位于所述第二极化线栅(4)的右边;所述下热源(6)位于地基微波辐射计(1)的下方。基于所述地基微波辐射计实时定标装置,本发明还提供了一种地基微波辐射计实时定标方法,能够实现地基微波辐射计的实时定标。
搜索关键词: 一种 地基 微波 辐射计 实时 定标 装置 方法
【主权项】:
一种地基微波辐射计实时定标装置,其特征在于,所述装置包括:地基微波辐射计(1),第一极化线栅(2),左热源(3),第二极化线栅(4),右热源(5)和下热源(6);以地基微波辐射计(1)为中心,所述第一极化线栅(2)位于地基微波辐射计(1)的左边,所述左热源(3)位于所述第一极化线栅(2)的左边;所述第二极化线栅(4)位于地基微波辐射计(1)的右边,所述右热源(5)位于所述第二极化线栅(4)的右边;所述下热源(6)位于地基微波辐射计(1)的下方。
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