[发明专利]用于有机发光二极管显示装置的数据处理方法和装置在审

专利信息
申请号: 201410788233.2 申请日: 2014-12-17
公开(公告)号: CN104751785A 公开(公告)日: 2015-07-01
发明(设计)人: 郑义泽;金兑穹;金廷炫 申请(专利权)人: 乐金显示有限公司
主分类号: G09G3/32 分类号: G09G3/32
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 公开了一种用于有机发光二极管(OLED)显示装置的数据处理方法和装置。所述数据处理方法包括:使用最大劣化补偿增益调制输入数据;使用劣化补偿增益补偿所调制的数据的劣化;累加劣化-补偿的数据,根据累加数据确定每个子像素的劣化程度,根据所确定的劣化程度检测劣化补偿增益,存储所检测的劣化补偿增益,并输出所存储的劣化补偿增益;检测各个子像素的劣化补偿增益中的最大劣化补偿增益,并输出所检测的最大劣化补偿增益;分析所述输入数据,由此设定峰值亮度控制(PLC)增益,并使用所输出的最大劣化补偿增益调制所述PLC增益;和分析所述劣化-补偿的数据,由此检测峰值亮度,并使用所调制的PLC增益调整所检测的峰值亮度。
搜索关键词: 用于 有机 发光二极管 显示装置 数据处理 方法 装置
【主权项】:
一种有机发光二极管显示装置的数据处理方法,包括下述步骤:(A)使用最大劣化补偿增益调制输入数据;(B)使用劣化补偿增益补偿所调制的数据的劣化;(C)累加劣化‑补偿的数据,根据累加数据确定每个子像素的劣化程度,根据所确定的劣化程度检测劣化补偿增益,存储所检测的劣化补偿增益,并输出所存储的劣化补偿增益;(D)检测各个子像素的劣化补偿增益中的最大劣化补偿增益,并输出所检测的最大劣化补偿增益;(E)分析所述输入数据,由此设定峰值亮度控制(PLC)增益,并使用所输出的最大劣化补偿增益调制所述峰值亮度控制增益;和(F)分析所述劣化‑补偿的数据,由此检测峰值亮度,并使用所调制的所述峰值亮度控制增益调整所检测的峰值亮度。
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