[发明专利]检测系统的校正与除错方法

摘要

本发明公开了一种检测系统的校正与除错的方法，先分别对不同电路区段进行数值校正，并储存校正时的参数；而校正后，便可开始对待测物进行后续的电性检测，而后，当检测系统故障时，则再一次对不同电路区段进行数值校正，并比对当下取得的参数与先前储存的参数间的差异，以快速找出该检测系统的故障处。

主权项

一种检测系统校正与除错的方法，该检测系统包含有依次电性连接的一检测机、一切换电路组以及一探针组，并定义自该检测机至该切换电路组的电气路径为一第一电路区段，以及自该检测机至该探针组的电气路径区为一第二电路区段；该校正与除错的方法包含下列步骤：A.对该检测机进行数值校正，并储存该检测机校正时的参数为一第一参数；B.对该第一电路区段进行数值校正，并储存该第一电路区段校正时的参数为一第二参数；C.对该第二电路区段进行数值校正，并储存该第二电路区段校正时的参数为一第三参数；D.校正完成后，将该探针组接抵于待测物上，以电性检测待测物；E.对该检测机进行数值校正，并比对该检测机校正时的参数与该第一参数之间的差值，是否大于一第一容许误差值；若是，则表示该检测机故障；若否，则执行下一步骤；F.对该第一电路区段进行数值校正，并比对该第一电路区段校正时的参数与该第二参数间的差值，是否大于一第二容许误差值；若是，则表示该切换电路组故障；若否，则执行下一步骤；G.对该第二电路区段进行数值校正，并比对该第二电路区段校正时的参数与该第三参数间的差值，是否大于一第三容许误差值；若是，则表示该探针组故障；若否，则表示该待测物故障。