[发明专利]具有芯片测试结果信息的芯片与检查芯片测试结果的方法

摘要

一种具有芯片测试结果信息的芯片与检查芯片测试结果的方法在此揭露。芯片包含芯片基板与设置在芯片基板上的记录模块。记录模块用以记录代表芯片是否通过芯片测试的状态代码。其方法包含下列步骤：对芯片执行芯片测试；以及在芯片的记录模块中记录状态代码，状态代码代表芯片是否通过芯片测试。透过本发明中将芯片测试结果的信息记录在记录模块上的芯片，使用者可以轻易地检查芯片是否通过芯片测试而不需要联系芯片制造商要求提供对应的测试记录文件。

主权项

1.一种具有芯片测试结果信息的芯片，其特征在于，包含：一芯片基板；以及一记录模块，设置在该芯片基板上，该记录模块用以记录一状态代码，该状态代码代表该芯片是否通过一芯片测试，该记录模块的一部分为可熔材质，可用电流熔断，其中该电流透过一探针用以熔断该记录模块的该可熔材质，以在该记录模块中记录该状态代码，其中该探针更耦接一开关，一控制信号用以控制该开关，当该控制信号控制该开关在一短路状态，该电流可穿过该探针并熔断该可熔材质，以代表该状态代码被设置为一第一状态，以及当该控制信号控制该开关在开路状态，而该可熔材质维持在没有被熔断的状态，以代表该状态代码被设置为一第二状态。