[发明专利]一种基于查表法的半导体器件的建模方法和系统有效
申请号: | 201410708276.5 | 申请日: | 2014-11-27 |
公开(公告)号: | CN104881508B | 公开(公告)日: | 2018-08-03 |
发明(设计)人: | 张乃千;裴轶 | 申请(专利权)人: | 苏州能讯高能半导体有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 路凯;杨生平 |
地址: | 215300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于查表法的半导体器件的建模方法和系统,该方法包括:根据多个半导体单胞器件的本征数据,获取由多个所述半导体单胞器件组成的半导体器件的本征仿真数据;获取所述半导体器件的寄生仿真数据;根据所述半导体器件的本征仿真数据和寄生仿真数据,建立所述半导体器件的查表模型。本发明提供的一种基于查表法的半导体器件的建模方法和系统,能够减少仿真运算的数据量、缩短仿真运算的时间和降低仿真中器件布局的复杂度。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 查表法 半导体器件 建模 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种基于查表法的半导体器件的建模方法,其特征在于,包括:根据多个半导体单胞器件的本征数据,获取由多个所述半导体单胞器件组成的半导体器件的本征仿真数据;获取所述半导体器件的寄生仿真数据;根据所述半导体器件的本征仿真数据和寄生仿真数据,建立所述半导体器件的查表模型;其中,所述根据多个半导体单胞器件的本征数据,获取由多个所述半导体单胞器件组成的半导体器件的本征仿真数据,包括:对所述半导体单胞器件进行不同测试条件下的测试,以得到相应测试条件下的测试数据;去除所述测试数据中的寄生参量,得到所述半导体单胞器件的本征数据;根据所述半导体单胞器件的本征数据,建立所述半导体单胞器件的本征部分的查表模型;组合多个所述半导体单胞器件,仿真以获取到由多个所述半导体单胞器件组成的半导体器件的本征仿真数据。
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