[发明专利]一种高光谱成像仪外场光谱辐射定标方法及装置有效
| 申请号： | 201410705891.0 | 申请日： | 2014-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN104406696A | 公开（公告）日： | 2015-03-11 |
| 发明（设计）人： | 段依妮;张立福;吴太夏;黄长平;张红明 | 申请（专利权）人： | 国家海洋环境预报中心;中国科学院遥感与数字地球研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨 |
| 地址： | 100101 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高光谱成像仪外场光谱辐射定标方法及装置，包括：根据实验室光谱辐射定标初值进行第一次外场光谱定标，得到高光谱成像仪的第一中心波长λ1和第一带宽FWHM1；根据第一次外场光谱定标的结果进行第一次外场绝对辐射定标，得到第一次外场绝对辐射定标的增益G1和偏置b1；根据第一次外场绝对辐射定标的结果进行第二次外场光谱定标，得到高光谱成像仪的第二中心波长λ2和第二带宽FWHM2；根据第二次外场光谱定标的结果进行第二次外场绝对辐射定标，得到第二次外场绝对辐射定标的增益G2和偏置b2；循环进行n轮光谱辐射定标直到得到的外场光谱辐射定标结果符合预设阈值。本发明能够有效提高数据利用效率，极大降低外场实验成本，提高外场光谱定标和绝对辐射定标的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 成像 外场 辐射 定标 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种高光谱成像仪外场光谱辐射定标方法，其特征在于，包括：S101.根据实验室光谱辐射定标初值进行第一次外场光谱定标，得到高光谱成像仪的第一中心波长λ1和第一带宽FWHM1；S102.根据所述第一次外场光谱定标的结果进行第一次外场绝对辐射定标，得到第一绝对辐射定标系数，所述第一绝对辐射定标系数包括第一次外场绝对辐射定标的增益G1和偏置b1；S103.根据所述第一次外场绝对辐射定标的结果进行第二次外场光谱定标，得到高光谱成像仪的第二中心波长λ2和第二带宽FWHM2；S104.根据所述第二次外场光谱定标的结果进行第二次外场绝对辐射定标，得到第二绝对辐射定标系数，所述第二绝对辐射定标系数包括第二次外场绝对辐射定标的增益G2和偏置b2；S105.判断得到的外场光谱辐射定标结果是否符合预设条件，若是，则退出循环，否则根据所述第二次外场绝对辐射定标的结果，再次进行外场光谱定标和外场绝对辐射定标。
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