[发明专利]一种电路器件的可靠性评估方法及装置有效
| 申请号： | 201410692196.5 | 申请日： | 2014-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN104408252B | 公开（公告）日： | 2017-10-10 |
| 发明（设计）人： | 李孝远;林熠;李洛宇;罗春华;安奇;刘从振 | 申请（专利权）人： | 深圳市国微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于可靠性工程技术领域，提供了一种电路器件的可靠性评估方法与装置，包括配置用于可靠性评估的测试电路的特性参数；基于实验数据获取所述特性参数的应力趋势模型，所述应力趋势模型用于表示所述特性参数在不同应力之下的特性参数值；建立所述测试电路的电路模型；在所述测试电路的电路模型中引入所述应力趋势模型，得到所述测试电路的应力仿真数据；基于所述测试电路的应力仿真数据，采用阿列尼乌斯经验公式完成对所述测试电路的可靠性评估。本发明有效地降低了产品开发过程中的可靠性实验周期，且能够较为准确地完成对电路器件的可靠性评估。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电路 器件 可靠性 评估 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种电路器件的可靠性评估方法，其特征在于，包括：配置用于可靠性评估的测试电路的特性参数；基于实验数据获取所述特性参数的应力趋势模型，所述应力趋势模型用于表示所述特性参数在不同应力之下的特性参数值；建立所述测试电路的电路模型；在所述测试电路的电路模型中引入所述应力趋势模型，得到所述测试电路的应力仿真数据；基于所述测试电路的应力仿真数据，采用阿列尼乌斯经验公式完成对所述测试电路的可靠性评估；所述基于实验数据获取所述特性参数的应力趋势模型包括：根据所述测试电路的类型，为所述测试电路施加与该类型相匹配的加速寿命实验；采集加速寿命实验过程中产生的实验数据，所述实验数据包括不同应力条件下对应的特性参数值；基于采集到的实验数据进行趋势分析，生成所述特性参数的应力趋势模型。
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