[发明专利]检验系统及检验系统的控制方法在审
| 申请号： | 201410677044.8 | 申请日： | 2014-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN105445295A | 公开（公告）日： | 2016-03-30 |
| 发明（设计）人： | 郑宇哲;岩家和;陈世亮;邱志彬 | 申请（专利权）人： | 德律科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人： | 王正茂;丛芳 |
| 地址： | 中国台湾台北*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检验系统及检验系统的控制方法，该检验系统包含放射源、影像侦测器及放置装置，前述放置装置包含承载器及转动机构。放置装置配置于放射源以及影像侦测器之间，且转动机构耦接于承载器。放射源以及影像侦测器被驱动以沿着预设路径移动，承载器用来承载至少一个物体，转动机构用来转动承载器。根据本发明公开的检验系统可改善待测物体被阻挡物挡住原先用来检测上述物体的X-ray射线，导致上述物体无法被X-ray分层照相法所检测的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 检验 系统 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种检验系统，其特征在于，所述检验系统包含：放射源；影像侦测器，其中所述放射源以及所述影像侦测器被驱动以沿着预设路径移动；以及放置装置，其配置于所述放射源以及所述影像侦测器之间，其中所述放置装置包含：承载器，其用来承载至少一个物体；以及转动机构，其耦接于所述承载器并用来转动所述承载器。
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