[发明专利]分光装置以及磁测定装置在审
| 申请号： | 201410584811.0 | 申请日： | 2014-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN104635293A | 公开（公告）日： | 2015-05-20 |
| 发明（设计）人： | 长坂公夫 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G02B6/00 | 分类号： | G02B6/00;G01R33/032 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 刘建 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种分光装置，其使分支的光的光量变得比较均匀。分光装置具有：导光体，其具有对入射的光进行反射的第一面以及第二面，使所述光在所述第一面与第二面之间传播；分光膜，其设于所述导光体的内部，具有使所述光反射的特性与使所述光透过的特性；以及多个光取出部，其设于所述第一面，使在所述分光膜处透过的光射出。 | ||
| 搜索关键词： | 分光 装置 以及 测定 | ||
【主权项】：
一种分光装置，其中，该分光装置具有：导光体，其具有对入射的光进行反射的第一面以及第二面，使所述光在所述第一面与第二面之间传播；分光膜，其设于所述导光体的内部，具有使所述光反射的特性与使所述光透过的特性；以及多个光取出部，其设于所述第一面，使在所述分光膜处透过的光射出。
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