[发明专利]温漂自补偿SOI压力传感器的制备及补偿方法有效

专利信息
申请号: 201410508124.0 申请日: 2011-11-23
公开(公告)号: CN104280186A 公开(公告)日: 2015-01-14
发明(设计)人: 刘同庆 申请(专利权)人: 无锡芯感智半导体有限公司
主分类号: G01L19/04 分类号: G01L19/04;G01L9/04
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 楼高潮
地址: 214072 江苏省无锡市滨湖区十八*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种温漂自补偿SOI压力传感器的制备方法及补偿方法,其包括SOI衬底,所述SOI衬底上设有用于配置成惠斯通电桥的桥路电阻,且SOI衬底对应设置桥路电阻的表面设置用于对惠斯通电桥进行温度补偿的补偿电阻,所述补偿电阻及桥路电阻上设置电连接的互连引线;桥路电阻及补偿电阻间通过绝缘隔离层及钝化层相隔离,绝缘隔离层覆盖于SOI衬底上,钝化层覆盖于绝缘隔离层上;刻蚀对应于设置桥路电阻另一侧的SOI衬底以形成压力腔及压力敏感膜,所述压力腔及压力敏感膜位于桥路电阻的正下方。本发明结构紧凑,实现温漂自补偿,降低成本,稳定性高,一致性好,适合批量生产,适应范围广,安全可靠。
搜索关键词: 补偿 soi 压力传感器 制备 方法
【主权项】:
一种温漂自补偿SOI压力传感器的制备方法,包括以下步骤:(1)、在衬底(1)的上表面淀积绝缘介质层(2),作为SOI结构的绝缘隔离介质层;(2)、在绝缘介质层(2)上淀积导电材料,以形成SOI衬底;(3)、对导电材料采用不同的离子注入浓度进行掺杂,经退火、刻蚀工艺后,分别形成桥路电阻(3)、恒压供电补偿电阻(4)、恒流供电补偿电阻(5);(4)、淀积绝缘隔离层(6),覆盖桥路电阻(3)、恒压供电补偿电阻(4)、恒流供电补偿电阻(5);(5)、在桥路电阻(3)、恒压供电补偿电阻(4)、恒流供电补偿电阻(5)对应的端部进行光刻形成引线孔;(6)、进行离子注入,形成欧姆接触浓硼区;(7)、在引线孔内淀积互连引线(7);(8)、反刻引线和压焊块,合金化处理;(9)、淀积钝化层(8);(10)、对钝化层(8)进行刻蚀,露出压焊区域;(11)、对SOI衬底进行背面深刻蚀,形成压力腔(9),压力腔(9)上保留一定厚度的衬底材料,已形成压力敏感膜(10);(12)、划片、封装、测试,完成压力传感器的制备。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡芯感智半导体有限公司,未经无锡芯感智半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410508124.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top