[发明专利]用于评估控制环中的系统的性能的装置和方法有效
| 申请号： | 201410453627.2 | 申请日： | 2014-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN104426537B | 公开（公告）日： | 2019-04-16 |
| 发明（设计）人： | M·K·卡恩;K·J·默尔瓦那;M·J·荻尼;N·K·可尔尼 | 申请（专利权）人： | 亚德诺半导体集团 |
| 主分类号： | H03L7/08 | 分类号： | H03L7/08 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 申发振 |
| 地址： | 百慕大群岛(*** | 国省代码： | 百慕大群岛;BM |
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| 摘要： | 本发明涉及用于评估控制环中的系统的性能的装置和方法。一种监控电路，用于监控其中具有分频器的锁相环的性能，所述分频器包括至少第一计数器，所述监控电路包括：至少一个存储元件，其在锁相环工作时自系统事件起的预定时间之后捕获第一计数器的值；可变性计算器，其用于将计数器的值与所述计数器的前一值进行比较以计算变差；以及电路，其响应于变差的估计，用于输出状态信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 评估 控制 环中 系统 性能 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于监控其中具有分频器的锁相环的性能的监控电路，所述分频器包括第一计数器，所述监控电路包括：至少一个存储元件，其配置成在所述锁相环工作中自系统事件起预定时间之后捕获所述第一计数器的值；以及可变性计算器，其配置成将所述第一计数器的值与所述第一计数器的前值进行比较以计算表示所述第一计数器的值的差的第一值，其中所述可变性计算器还配置成根据所述锁相环的性能的多次观测来求所述第一值的和，并且所述监控电路配置成将所述和与阈值比较以获得所述锁相环的状态信号。
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