[发明专利]基于优化解空间搜索法的PS‑DInSAR地表形变测量参数估计方法有效

专利信息
申请号: 201410313140.4 申请日: 2014-07-02
公开(公告)号: CN104091064B 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 徐华平;王碧君 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00;G01S13/90
代理公司: 北京永创新实专利事务所11121 代理人: 赵文颖
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了基于优化解空间搜索法的PS‑DInSAR地表形变测量参数估计方法,包括步骤一获得差分干涉相位图像序列;步骤二对差分干涉相位图像序列,提取永久散射体点,构建Delaunay三角网络;步骤三对第k幅差分干涉相位图像,计算每一对相邻PS点的二次差分相位;步骤四建立待优化的目标函数;步骤五对目标函数在二维解空间进行搜索;步骤六使用Levenberg‑Marquardt算法对目标函数进行局部优化;步骤七解算地表形变量和高程误差。本发明不涉及信号采样问题,因此不受各干涉图像对时间和空间基线不均匀性影响,在缺乏先验知识的情况下仍能获得高精度的结果,为地表形变测量提供了新的思路和途径。
搜索关键词: 基于 优化 空间 搜索 ps dinsar 地表 形变 测量 参数估计 方法
【主权项】:
一种基于优化解空间搜索法的PS‑DInSAR地表形变测量参数估计方法,包括以下几个步骤:步骤一:输入包含地表形变信息的长时间SAR图像序列,并对SAR图像进行预处理,包括配准、干涉、去除参考面相位、去除地形相位,获得差分干涉相位图像序列,得到K幅差分干涉相位图像;步骤二:对差分干涉相位图像序列,提取永久散射体点,即PS点,设PS点的数量为N,第n个PS点记为xn,第k幅差分干涉相位图像中第n个PS点的差分干涉相位记为其中n是小于或等于N的正整数,k是小于或等于K的正整数,据提取PS点的坐标构建Delaunay三角网络;步骤三:从空间尺度上,对第k幅差分干涉相位图像,计算Delaunay三角网络第p条边PS点的二次差分相位:ΔΦkPS(xrp,xsp)=ΦkPS(xrp)-ΦkPS(xsp)---(1)]]>其中,p为小于或等于Delaunay三角网络总边数的正整数,rp、sp均是小于或等于N的正整数;步骤四:建立目标函数:γp[▿ΔQ(xrp,xsp),Δv(xrp,xsp)]=|1KΣk=1Kexp{j[ΔΦkPS(xrp,xsp)-Bk⊥·▿ΔQ(xrp,xsp)-Cv·Tk·v(xrp,xsp)]}|---(2)]]>式中,▿ΔQ(xrp,xsp)=ΔQ(xrp)-ΔQ(xsp)---(3)]]>ΔQ(xrp)=Cq(xrp)·Δq(xrp),ΔQ(xsp)=Cq(xsp)·Δq(xsp)---(4)]]>Cq(xrp)=4πλRrpsinαrp,Cq(xsp)=4πλRspsinαsp---(5)]]>Δv(xrp,xsp)=v(xrp)-v(xsp)---(6)]]>Cv=4πλ---(7)]]>其中,j是虚数单位;为第k幅差分干涉相位图像的垂直空间基线;和分别为PS点和的高程误差值;Tk为第k幅辅图像与主图像的成像时间间隔;和分别为PS点和沿雷达视线方向的线性形变速率值;和分别为PS点和与获取主图像的雷达对应的斜距;和分别为PS点和与获取主图像的雷达对应的当地入射角;λ为雷达波长;γp为相位相干系数;相邻PS点的二次差分相位由高程误差项、线性形变项和非线性因素构成,即:ΔΦkPS(xrp,xsp)=Bk⊥·▿ΔQ(xrp,xsp)+Cv·Tk·Δv(xrp,xsp)+ΔΦkPS,res(xrp,xsp)---(8)]]>式中,和为高程误差和线性形变对二次差分相位的贡献项;为非线性形变、大气延迟和失相关噪声的非线性因素对二次差分相位的贡献项;非线性形变、大气延迟和失相关噪声的不确定性使得无法直接测量,相位缠绕使得式(8)无法使用线性最小二乘法直接求解;因为建立目标函数:γp[▿ΔQ(xrp,xsp),Δv(xrp,xsp)]=|1KΣk=1Kexp{jΔΦkPS,res(xrp,xsp)}|---(9)]]>步骤五:对目标函数γp在二维空间中以搜索步长进行搜索,使得γp>Tγ且最小,记作和其中Tγ是给定的阈值;步骤六:以和作为迭代初值,使用Levenberg‑Marquardt算法对目标函数γp进行局部优化,获得使γp取得极大值的和步骤七:根据和解算地表形变量和高程误差。
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