[发明专利]含钨基材的化学机械平坦化有效

专利信息
申请号: 201410265586.4 申请日: 2014-03-12
公开(公告)号: CN104046246A 公开(公告)日: 2014-09-17
发明(设计)人: 史晓波;周鸿君;B·J·卢;J·A·施吕特;J-A·T·施瓦茨 申请(专利权)人: 气体产品与化学公司
主分类号: C09G1/02 分类号: C09G1/02;H01L21/768
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 吴亦华
地址: 美国宾夕*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 用于抛光钨或含钨基材的化学机械抛光(CMP)组合物,包含:磨料,至少一种固体催化剂,选自哌嗪衍生物、氰酸盐以及其组合的化学添加剂,以及液体载体。还提供了使用用于抛光钨或含钨基材的水性制剂的系统和方法。
搜索关键词: 基材 化学 机械 平坦
【主权项】:
钨化学机械抛光(CMP)组合物,包含:a)0.1wt%至25wt%的纳米尺寸磨料,选自二氧化硅,氧化铝,氧化铈,二氧化钛,氧化锆,以及其组合;b)0.1wt%至0.5wt%的铁化合物涂布颗粒的固体催化剂,选自铁化合物涂布的胶体二氧化硅,铁化合物涂布的胶体无机金属氧化物颗粒,铁化合物涂布的纳米尺寸无机金属氧化物颗粒,以及其组合;c)0.0001wt%至0.5wt%的化学添加剂,选自哌嗪衍生物,氰酸盐,以及其组合;d)0.5wt%至10wt%的氧化剂;以及e)液体载体;其中,所述CMP组合物的pH为约2.0至约8.0。
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