[发明专利]持卡器装置及多功位测试装置有效
| 申请号： | 201410098513.0 | 申请日： | 2014-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN103869108A | 公开（公告）日： | 2014-06-18 |
| 发明（设计）人： | 王磊 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种持卡器装置及多功位测试装置，持卡器上设有一单功位测试部件，用于对半导体芯片单个功位进行测试，在对半导体芯片进行多功位测试过程中即可使用单功位测试部件对异常功位进行单独测试，从而实现在对半导体芯片进行多功位测试的同时能够对单个功位进行测试，避免了更换工程卡，简化了功位异常解决的流程，提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 持卡器 装置 多功位 测试 | ||
【主权项】：
一种持卡器装置，用于夹持测试卡对半导体芯片进行多功位测试，所述持卡器装置包括持卡器和单功位测试部件，所述单功位测试部件固定于所述持卡器上。
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