[发明专利]一种InP基HEMT在太赫兹频段的建模方法有效
申请号: | 201410094889.4 | 申请日: | 2014-03-14 |
公开(公告)号: | CN103902668B | 公开(公告)日: | 2017-07-04 |
发明(设计)人: | 王俊龙;邢东;张立森;梁士雄;杨大宝;赵向阳;冯志红 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
主分类号: | G06F17/30 | 分类号: | G06F17/30 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所13120 | 代理人: | 米文智 |
地址: | 050051 *** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开了一种InP基HEMT在太赫兹频段的建模方法,首先对加工完成的InP基HEMT器件进行直流测试,获得InP基HEMT的电流电压参数,在电路设计软件中建立低频参数包;然后结合InP基HEMT的设计版图和加工工艺,建立InP基HEMT高频仿真结构模型,在InP基HEMT栅端口和漏端口分别设置波端口激励,结合InP基HEMT的实际电路封装形式,抽取InP基HEMT寄生分量S参数包;最后在电路设计软件中建立起完整的包含寄生参量的电路模型,低频参数包和寄生分量S参数包在电路设计软件中串联,建立InP基HEMT在太赫兹频段的整体电路模型。本发明方法简单,使用方便,缩短了开发周期,降低了开发成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 inp hemt 赫兹 频段 建模 方法 | ||
【主权项】:
一种InP基HEMT在太赫兹频段的建模方法,其特征在于,包括以下步骤:第一步,对加工完成的InP基HEMT器件进行直流测试,获得InP基HEMT在直流测试中的电流电压参数,在电路设计软件中建立电流电压参数构成的低频参数包;第二步,结合InP基HEMT的设计版图和加工工艺,在高频结构仿真软件中,建立InP基HEMT的高频仿真结构模型,在InP基HEMT的栅端口和漏端口分别设置波端口激励,结合InP基HEMT的实际电路封装形式,抽取InP基HEMT的寄生分量S参数包;第三步,在电路设计软件中建立起完整的包含寄生参量的电路模型,低频参数包和寄生分量S参数包在电路设计软件中串联,建立InP基HEMT在太赫兹频段的整体电路模型;在进行建模时,修改HFSS软件中建立起来的寄生结构模型,并使用所述方法建立模型,即通过修正再建模这一循环过程,使得模型和实际测试结果相符合。
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