[发明专利]应用电阻率成像测井资料连续定量评价储层非均质特征的方法在审
| 申请号： | 201410086722.3 | 申请日： | 2014-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN104912547A | 公开（公告）日： | 2015-09-16 |
| 发明（设计）人： | 张德峰;刘伟;刘海河;潘敏;刘云兰 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工集团公司;中石化胜利石油工程有限公司测井公司 |
| 主分类号： | E21B49/00 | 分类号： | E21B49/00 |
| 代理公司： | 东营双桥专利代理有限责任公司 37107 | 代理人： | 侯华颂 |
| 地址： | 100728 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种应用电阻率成像测井资料连续定量评价储层非均质特征的方法，通过地层因素公式，将每个深度点沿井周分布的电阻率成像测井数据转换为孔隙度，统计不同深度孔隙度数据的分布可以得到非均质特征谱，对非均质特征谱的形态特征进行分析，计算均值、均质系数、方差、峰值大小和品质因子等储层非均质特征参数，进行岩性识别、储层有效性分类和剩余油分布等研究。本发明提高了测井资料对储层非均质特征评价的能力，获得了能够反应地层非均质特征的大量参数，具有单纯应用常规测井资料评价储层非均质性无法比拟的优势，有较高推广价值和社会效益。 | ||
| 搜索关键词： | 应用 电阻率 成像 测井 资料 连续 定量 评价 储层非均质 特征 方法 | ||
【主权项】：
一种应用电阻率成像测井资料连续定量评价储层非均质特征的方法，其特征是：首先应用地层因素公式将电阻率成像数据转换为孔隙度，然后统计每个深度沿井周分布的孔隙度，形成非均质特征谱，提取反应储层非均质特征的定量参数。
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