[发明专利]一种分子印迹固相萃取技术-电位法联用检测有机污染物的方法有效
| 申请号： | 201410072967.0 | 申请日： | 2014-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN103776879A | 公开（公告）日： | 2014-05-07 |
| 发明（设计）人： | 秦伟;黎四霞;梁荣宁;姚瑞清 | 申请（专利权）人： | 中国科学院烟台海岸带研究所 |
| 主分类号： | G01N27/26 | 分类号： | G01N27/26;G01N27/333;G01N1/28 |
| 代理公司： | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人： | 周秀梅;李颖 |
| 地址： | 264003 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明涉及检测有机污染物的方法，具体地说是一种分子印迹固相萃取技术-电位法联用检测有机污染物的方法。采用有机污染物分子印迹聚合物作为固相萃取填料对样品中有机污染物进行富集分离，而后利用有机污染物分子印迹聚合物膜离子选择性电极对上述富集后的有机污染物进行电位检测，从而实现复杂样品中有机污染物的电位检测。本发明采用分子印迹固相萃取技术消除影响电位检测的复杂样品基体效应，有效提高了电位检测的精确度，扩大了电位检测法的应用范围。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分子 印迹 萃取 技术 电位 联用 检测 有机 污染物 方法 | ||
【主权项】：
一种分子印迹固相萃取技术‑电位法联用检测有机污染物的方法，其特征在于：采用有机污染物分子印迹聚合物作为固相萃取填料对样品中有机污染物进行富集分离，然后利用有机污染物分子印迹聚合物膜离子选择性电极对上述富集后的有机污染物进行电位检测，从而实现复杂样品中有机污染物的电位检测。
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