[发明专利]发光二极管外延片及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201410072064.2 申请日: 2014-02-28
公开(公告)号: CN103904177B 公开(公告)日: 2018-01-12
发明(设计)人: 代露;魏世祯;谢文明 申请(专利权)人: 华灿光电(苏州)有限公司
主分类号: H01L33/06 分类号: H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司11138 代理人: 徐立
地址: 215600 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种发光二极管外延片及其制造方法,属于半导体技术领域。所述外延片包括蓝宝石衬底、以及依次层叠在所述蓝宝石衬底上的缓冲层、成核层、未掺杂GaN层、N型层、有源层、P型层,所述成核层包括多个AlxGa1‑xN层,0<x<1,所述多个AlxGa1‑xN层的Al组分含量沿所述外延片的生长方向逐层减少。本发明通过在蓝宝石衬底和未掺杂GaN层之间加入成核层,成核层包括多个AlxGa1‑xN层,0<x<1,可以避免未掺杂GaN层和衬底之间晶格不匹配。而且多个AlxGa1‑xN层的Al组分含量沿外延片的生长方向逐层减少,改善了最终生长出来的外延层的翘曲度,外延片内光电性能比较均匀,晶体质量较好。
搜索关键词: 发光二极管 外延 及其 制造 方法
【主权项】:
一种发光二极管外延片,所述外延片包括蓝宝石衬底、以及依次层叠在所述蓝宝石衬底上的缓冲层、未掺杂GaN层、N型层、有源层、P型层,其特征在于,所述外延片还包括成核层,所述成核层位于所述缓冲层和所述未掺杂GaN层之间,所述成核层包括多个AlxGa1‑xN层,0<x<1,所述多个AlxGa1‑xN层的Al组分含量沿所述外延片的生长方向逐层减少,所述成核层的厚度为200nm‑500nm;所述未掺杂GaN层为多周期结构,每个周期包括AlGaN层和GaN层。
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