[发明专利]一种cmos硅片裂片的处理装置及其处理方法有效

专利信息
申请号: 201410064069.0 申请日: 2014-02-25
公开(公告)号: CN103811422A 公开(公告)日: 2014-05-21
发明(设计)人: 黄福仁;黄赛琴;林勇 申请(专利权)人: 福建安特微电子有限公司
主分类号: H01L21/8238 分类号: H01L21/8238
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人: 宋连梅
地址: 351100 福建*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供一种cmos硅片裂片的处理装置及其处理方法,所述处理装置包括承压部、挤压部以及铜棒,所述承压部通过连接件与挤压部相连,所述承压部从下到上依次设置有弹性垫片、第一PVC透明片以及第一宣纸层,所述挤压部从下到上依次设有第二宣纸层以及第二PVC透明片;方法如下:往第一宣纸层和第二宣纸层滴冷媒;将整片硅片的正面朝下放置于第一宣纸层上,然后盖下挤压部;将铜棒放于挤压部的上方,并沿整片硅片的横向、纵向切割道方向各推压一次,形成硅片裂片;将整个处理装置翻转,则硅片裂片的正面均朝上,再挑选合格的硅片裂片。本发明能够大大提高硅片裂片的拆分效率,同时不划伤硅片表面,且不会产生崩边及摩擦静电现象。
搜索关键词: 一种 cmos 硅片 裂片 处理 装置 及其 方法
【主权项】:
一种cmos硅片裂片的处理装置,其特征在于:所述处理装置包括一承压部、一挤压部以及一铜棒,所述承压部通过一连接件与挤压部相连,所述承压部从下到上依次设置有一弹性垫片、一第一PVC透明片以及一第一宣纸层,所述挤压部从下到上依次设有一第二宣纸层以及一第二PVC透明片。
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