[发明专利]微粒分析设备和微粒分析系统有效
| 申请号： | 201380072075.4 | 申请日： | 2013-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN104969063B | 公开（公告）日： | 2018-05-22 |
| 发明（设计）人： | 马尔科雷勒·布兰;佐藤一雅;大森真二;胜本洋一 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G01N27/02 | 分类号： | G01N27/02;G01N15/12;G01N37/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 田喜庆;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了无需使用标识物便能够精确地识别和分开各个微粒的微粒分析装置和微粒分析系统。微粒分析装置设置有：包含多个微粒的液体被引入其中的样本通道，用于在样本通道的至少一部分中形成交变电场的第一电极对，测量第一电极对之间的阻抗的测量单元，由测量单元测量的阻抗计算微粒属性值的分析单元，以及确定由测量单元测量的阻抗的数据是否来源于微粒的确定单元。 | ||
| 搜索关键词： | 微粒 分析 设备 系统 | ||
【主权项】：
1.一种微粒分析装置，包括：样本通道，被配置为接收包含多个微粒的液体；第一电极对，被配置为在所述样本通道的至少一部分中形成交变电场；测量部，被配置为测量所述第一电极对之间的阻抗；分析部，被配置为根据在所述测量部中测量出的所述阻抗计算所述微粒的属性值；以及确定部，被配置为确定在所述测量部中测量出的所述阻抗的数据是否来源于所述微粒，其中，所述分析部针对在所述确定部中被确定为来源于所述微粒的所述数据计算所述属性值。
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