[发明专利]用于确定半桥电路的故障状态的方法和电路单元有效
| 申请号： | 201380055207.2 | 申请日： | 2013-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN104871432B | 公开（公告）日： | 2018-08-07 |
| 发明（设计）人： | C.霍恩施泰因;U.布利;K.屈嫩 | 申请（专利权）人： | 大陆泰密克微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | H03K17/18 | 分类号： | H03K17/18;H01H47/00;H02M1/32;H02H7/10;H02M1/08 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 卢江;胡莉莉 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本申请的主题涉及一种用于确定具有至少一个第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）的半桥电路（HBS）的故障状态的方法，其中第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）以串联电路彼此连接并且可分别借助于控制信号控制，并且其中第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）能够分别采用断开的和闭合的开关状态。确定第一半导体开关（HS1）的实际开关状态和理论开关状态。此外确定第二半导体开关（HS2）的实际开关状态和理论开关状态。此外，如果第一半导体开关（HS1）的实际开关状态不同于第一半导体开关（HS1）的理论开关状态并且此外第二半导体开关（HS2）的实际开关状态不同于第二半导体开关（HS2）的理论开关状态，那么识别出半桥电路（HBS）中的桥短路。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 电路 故障 状态 方法 单元 | ||
【主权项】：
1.用于确定具有第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）的半桥电路（HBS）的故障状态的方法，其中所述第一半导体开关（HS1）和所述第二半导体开关（HS2）以串联电路彼此连接并且分别借助于控制信号可控，并且其中所述第一半导体开关（HS1）和所述第二半导体开关（HS2）能够分别采用断开的和闭合的开关状态，并且其中所述方法具有下述方法步骤：‑ 借助于第一确定单元（E1）确定所述第一半导体开关（HS1）的实际开关状态，‑ 借助于第二确定单元（E2）确定所述第二半导体开关（HS2）的实际开关状态，‑ 借助于中央控制单元（ZSE）确定所述第一半导体开关（HS1）的理论开关状态和所述第二半导体开关（HS2）的理论开关状态，‑ 如果所述第一半导体开关（HS1）的实际开关状态不同于所述第一半导体开关（HS1）的理论开关状态并且此外所述第二半导体开关（HS2）的实际开关状态不同于所述第二半导体开关（HS2）的理论开关状态，那么借助于所述中央控制单元（ZSE）识别出所述半桥电路（HBS）中的桥短路。
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