[发明专利]光学式测距装置和电子设备有效
申请号: | 201380039255.2 | 申请日: | 2013-07-01 |
公开(公告)号: | CN104508424A | 公开(公告)日: | 2015-04-08 |
发明(设计)人: | 和田秀夫 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G01C3/06 | 分类号: | G01C3/06;G01S7/481 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供能够不受温度影响而更加正确地进行测距,并且能够廉价且简便地制造的光学式测距装置和装载该光学式测距装置的电子设备。在光学式测距装置的引线框(9)形成两个以上的第一增强端子(7、8),该第一增强端子具有在与发光端板部(2)和受光端板部(4)的结合部(6)的延伸方向大致正交的方向上延伸的部分,且由第一遮光性树脂体固定,并且与受光端板部(4)结合。 | ||
搜索关键词: | 光学 测距 装置 电子设备 | ||
【主权项】:
一种光学式测距装置,其特征在于,包括:引线框(9、54、69、80),其在同一面上具有发光端板部(2、41、51、61)、受光端板部(4、39、49、59)和将所述发光端板部(2、41、51、61)与所述受光端板部(4、39、49、59)结合的在一个方向上延伸的结合部(6、56、81、83);发光元件(1),其安装在所述发光端板部(2、41、51、61)上;受光元件(3),其安装在所述受光端板部上,并且用于检测从所述发光元件(1)射出并由测量对象物反射后的光的光点位置;透光性树脂体(17、18),其将所述发光元件(1)和所述受光元件(3)密封;第一遮光性树脂体(21、58、66、82),其将所述透光性树脂体(17、18)一体地密封,并且具有位于所述发光元件(1)与所述受光元件(3)之间的遮光壁(35);发光透镜(29),其以隔着间隔位于所述发光元件(1)之上的方式设置于所述第一遮光性树脂体(21),并且具有透光性;和受光透镜(25),其以隔着间隔位于所述受光元件(3)之上的方式设置于所述第一遮光性树脂体(21),并且具有透光性,所述引线框(9、69)具有与所述受光端板部(4、39、49、59)结合,并且在与所述结合部(6、56)的延伸方向大致正交的方向上延伸的至少两个第一端子(7、8),所述各第一端子(7、8)由所述第一遮光性树脂体(21)固定。
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