[发明专利]软性错误容忍电路系统有效
申请号: | 201380037766.0 | 申请日: | 2013-05-14 |
公开(公告)号: | CN104685620B | 公开(公告)日: | 2018-12-21 |
发明(设计)人: | R·C·布利什;T·Z·侯赛因 | 申请(专利权)人: | 赛普拉斯半导体公司 |
主分类号: | H01L23/373 | 分类号: | H01L23/373;H01L23/34 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 张瑞;郑霞 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 集合体包括集成电路、置于集成电路上方并具有至少50微米厚度的膜层、以及包含至少0.5%热中子吸收剂的热中子吸收剂层。热中子吸收剂层可为玻璃层或可包括塑模化合物。 | ||
搜索关键词: | 软性 错误 容忍 电路 系统 | ||
【主权项】:
1.一种集合体,其包含:集成电路;置于该集成电路上方并具有至少50微米厚度的膜层;以及置于该膜层上方并包含以重量计至少0.5%热中子吸收材料的热中子吸收剂层;其中,该膜层无阿伐粒子发射体。
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