[发明专利]颗粒表征在审

专利信息
申请号: 201380033125.8 申请日: 2013-06-21
公开(公告)号: CN104662407A 公开(公告)日: 2015-05-27
发明(设计)人: E·尼尔·刘易斯;约翰·麦卡弗里;肯·哈伯;彼得·贝内特;杰拉尔德·山多;托马兹·萨多夫斯基 申请(专利权)人: 马尔文仪器有限公司
主分类号: G01N15/14 分类号: G01N15/14
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 英国伍*** 国省代码: 英国;GB
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摘要: 本公开涉及用于检测多相样本的性能的方法和设备,包括在工业处理中检测颗粒或液体液滴的性能。所公开的实施方式包括颗粒表征方法,该颗粒表征方法包括:使颗粒悬浮在流体中;促使悬浮颗粒流过二维阵列检测器;当悬浮颗粒在流体中流过二维阵列检测器,对悬浮颗粒进行照明;当颗粒在流体中流过二维阵列检测器时,获取颗粒的多个图像;以及将颗粒表征函数应用于针对至少一些悬浮颗粒获取的多个图像的步骤的结果。
搜索关键词: 颗粒 表征
【主权项】:
一种颗粒表征方法,包括:使颗粒悬浮在流体中;促使悬浮颗粒流过二维阵列检测器;当所述悬浮颗粒在所述流体中流过所述二维阵列检测器时,对所述悬浮颗粒进行照明;当所述悬浮颗粒在所述流体中流过所述二维阵列检测器时,获取所述颗粒的多个图像;以及将颗粒表征函数应用于针对至少一些所述悬浮颗粒获取的多个图像的步骤的结果。
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