[发明专利]借助磁场传感器阵列基于霍耳效应非接触测量相对位置的位移传感器有效

专利信息
申请号: 201380019562.4 申请日: 2013-04-08
公开(公告)号: CN104220844B 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: O.沙夫 申请(专利权)人: 泰连德国有限公司
主分类号: G01D5/14 分类号: G01D5/14
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 吴艳
地址: 德国本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及用于非接触测量产生磁场的磁场源(102)和磁场传感器(100)相对于彼此的相对位置的位移传感器,其中磁场源(102)和磁场传感器(100)相对于彼此可移动。多个磁场探头(106‑1,106‑2,106‑3,...106‑N)产生多个位置信号,每个磁场探头检测磁场的磁通密度的至少两个空间分量(By,Bz)。控制和计算单元(108)基于所述多个位置信号计算位移传感器的输出信号,并且存储单元(110)存储各个位置信号,控制和计算单元计算磁通密度的大小并且将该大小与预定阈值比较,从而如果所述磁通密度的大小比所述阈值高则为各磁场探头(106‑1,106‑2,106‑3,...106‑N)输出当前计算的位置信号,如果所述磁通密度小于或者等于所述阈值则输出先前存储的位置信号。
搜索关键词: 借助 磁场 传感器 阵列 基于 效应 接触 测量 相对 位置 位移
【主权项】:
用于非接触测量产生磁场的磁场源(102)和磁场传感器(100)相对于彼此的相对位置的位移传感器,其中所述磁场源(102)和所述磁场传感器(100)相对于彼此可移动,其中所述磁场传感器(100)包括:用于产生多个位置信号的多个磁场探头(106‑1,106‑2,106‑3,...106‑N),每个磁场探头构造为使得其检测所述磁场的磁通密度的至少两个空间分量(By,Bz)并且依据所测量的空间分量产生所述位置信号,控制和计算单元(108),所述控制和计算单元用于基于所述多个位置信号计算所述位移传感器的输出信号,存储单元(110),所述存储单元用于存储个体位置信号,所述控制和计算单元能够被操作以计算所述磁通密度的大小并且将该大小与预定的阈值比较,从而如果所述磁通密度的大小比所述阈值高则为每个磁场探头(106‑1,106‑2,106‑3,...106‑N)输出当前计算的位置信号,并且如果所述磁通密度小于或者等于所述阈值则输出先前存储的位置信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于泰连德国有限公司,未经泰连德国有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201380019562.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top