[发明专利]具有有源漂移区带的半导体布置在审
申请号: | 201380007424.4 | 申请日: | 2013-01-30 |
公开(公告)号: | CN104106133A | 公开(公告)日: | 2014-10-15 |
发明(设计)人: | R.魏斯 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技德累斯顿有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L27/06;H01L27/088;H01L27/12;H01L29/06;H01L29/78;H01L29/40 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 申屠伟进;胡莉莉 |
地址: | 德国德*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 一种半导体器件布置包括:半导体层;和至少一个串联电路,具有第一半导体器件和n多个第二半导体器件,其中,n>1。所述第一半导体器件具有负载路径以及在所述半导体层中所集成的有源器件区域。每个第二半导体器件具有在所述半导体层中所集成的有源器件区域以及在第一负载端子和第二负载端子与控制端子之间的负载路径。所述第二半导体器件使得其负载路径串联连接并且串联连接到所述第一半导体器件的负载路径。每个第二半导体器件使得其控制端子连接到其它第二半导体器件之一的负载端子。所述第二半导体器件之一使得其控制端子连接到所述第一半导体器件的负载端子之一。所述布置还包括:边沿端接结构。 | ||
搜索关键词: | 具有 有源 漂移 半导体 布置 | ||
【主权项】:
一种半导体器件布置,包括:半导体层(100);至少一个串联电路(1),具有第一半导体器件(2)并且具有n多个第二半导体器件(31‑3n),其中,n > 1,所述第一半导体器件具有(2)负载路径并且具有在所述半导体层中所集成的有源器件区域,所述第二半导体器件(31‑3n)中的每一个具有在所述半导体层中所集成的有源器件区域并且具有在第一负载端子和第二负载端子(321‑32n,331‑33n)与控制端子(311‑31n)之间的负载路径,所述第二半导体器件(31‑3n)使得其负载路径串联连接并且串联连接到所述第一半导体器件(2)的负载路径,所述第二半导体器件(31‑3n)中的每一个使得其控制端子(311‑31n)连接到其它第二半导体器件(31‑3n)之一的负载端子,并且所述第二半导体器件(31‑3n)之一使得其控制端子(311‑31n)连接到所述第一半导体器件(2)的所述负载端子(22,23)之一;以及边沿端接结构(4)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造