[实用新型]用于检测综合验光仪的辅助定位装置和光学检测系统有效
申请号: | 201320530292.0 | 申请日: | 2013-08-28 |
公开(公告)号: | CN203443767U | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | 刘文丽;李飞;洪宝玉;张吉焱;马振亚;孙劼 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;A61B3/103 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴贵明;张永明 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置和光学检测系统。辅助定位装置包括:底座;移动台,移动台与底座可移动地连接;连接部,连接部用于固定待安装物,连接部设置在移动台上。使用本实用新型中的辅助定位装置时,待安装物(例如用于检测综合验光仪的光学检测装置)通过连接部固定在移动台上,当移动台在底座上移动时,会带动光学检测装置随移动台运动,从而改变光学检测装置的位置、实现对光学检测装置的定位、保证了光学检测装置的定位精度、提高了光学检测装置的检测精度和使用可靠性。由于不再仅凭经验调整光学检测装置的位置,因而减少了调整时间、提高了工作效率、降低了工作人员的劳动强度。 | ||
搜索关键词: | 用于 检测 综合 验光 辅助 定位 装置 光学 系统 | ||
【主权项】:
一种用于检测综合验光仪的辅助定位装置,其特征在于,包括:底座(10);移动台(20),所述移动台(20)与所述底座(10)可移动地连接;连接部(30),所述连接部(30)用于固定待安装物,所述连接部(30)设置在所述移动台(20)上。
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