[实用新型]限位框及具有该限位框的芯片测试装置有效
| 申请号： | 201320376513.3 | 申请日： | 2013-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN203414490U | 公开（公告）日： | 2014-01-29 |
| 发明（设计）人： | 李光裕;李志雄;李中政 | 申请（专利权）人： | 深圳市江波龙电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区科发路8*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型适用于芯片测试技术领域，公开了一种限位框及具有该限位框的芯片测试装置。限位框包括框体，所述框体具有用于定位芯片的内框，所述框体的外框与测试座的容纳部相匹配，所述内框与芯片外形尺寸相匹配。芯片测试装置包括测试座和上述的限位框。本实用新型提供的限位框及具有该限位框的芯片测试装置，其可以根据测试座的容纳部制备具有不同内框规格的限位框，以与不同规格的芯片相匹配，各限位框的外框规格相同，即各限位框的外框与测试座的容纳部相匹配，通过更换不同的限位框，即可使相应规格的芯片可以很好地于测试座上定位，无需采用不同的测试座，芯片测试装置的通用性佳，从而降低了芯片测试的成本，提高产品的市场竞争力。 | ||
| 搜索关键词： | 限位 具有 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种限位框，其特征在于，包括框体，所述框体具有用于定位芯片的内框，所述框体的外框与测试座的容纳部相匹配，所述内框与芯片外形尺寸相匹配。
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